Producten Beschrijving
ESD-tests (elektrostatische ontlading) op chip-niveau zijn een betrouwbaarheidstest voor geïntegreerde schakelingen (IC's) die worden gebruikt om het vermogen van een chip te evalueren om weerstand te bieden aan elektrostatische ontladingsinterferentie tijdens productie, verpakking, transport of gebruik. GRGTEST beschikt over een volwassen technisch team en experts uit de industrie, waardoor efficiënte ESD-testdiensten mogelijk zijn.
Dienstinhoud
HBM (menselijk lichaamsmodel), CDM (model met opgeladen apparaat), MM (machinemodel), TLP (transmissielijnpuls), VFTLP (zeer snelle transmissielijnpuls)
Dienstomvang
Geïntegreerde schakelingen (IC's), optische modules, discrete apparaten, kale matrijzen
Testnormen
- ANSI/ESDA/JEDEC JS-001:2024 Gevoeligheidstest voor elektrostatische ontlading - Menselijk lichaamsmodel - componentniveau
- GJB 548C-2021 Methode 3015.1 Testmethoden en procedures voor micro-elektronische apparaten
- MIL-STD-883-3:2019 Methode 3015.9 Omgevingstestmethoden voor microcircuits
- AEC-Q100-002 REV-E Menselijk lichaamsmodel Elektrostatische ontladingstest
- AEC-Q101-001 REV-A Elektrostatische ontladingstest op menselijk lichaamsmodel
- ANSI/ESDA/JEDEC JS-002:2022 Testen van gevoeligheid voor elektrostatische ontlading - Model van opgeladen apparaat - apparaatniveau
- AEC-Q100-011 REV-D opgeladen apparaatmodel Gevoeligheidstest voor elektrostatische ontlading
- ANSI/ESD STM5.5.1-2022 Transmissielijnpuls Elektrostatische ontlading Gevoeligheidstest
- JESD22-A115C:2010 Machinemodel Gevoeligheidstest voor elektrostatische ontlading
- GJB 128B-2021 Methode 1020 Testmethoden voor discrete halfgeleiderapparaten
- IEC 61000-4-2:2008 Elektromagnetische compatibiliteit (EMC) - Test- en meettechnieken - Immuniteitstest voor elektrostatische ontlading
- Wegvoertuigen - Testmethoden voor elektrische storingen door elektrostatische ontlading ISO 10605:2008
Testartikelen
|
Testapparatuur |
Fabrikant |
Testartikelen |
|
MK.2TE |
Thermo Visser |
• HBM: 30V~8000V, Min. Stap 1V |
|
MK.4TE |
Thermo Visser |
• HBM: 25V~8000V, Min. Stap 1V |
|
Orion3 |
Thermo Visser |
• CDM: 25V~2000V, Min. Stap 1V |
|
TLP |
HPPI (Duitsland) |
• Pulsbreedte: 100ns |
|
VFTLP |
ESDEMC |
• Pulsbreedte: 1ns, 2,5ns, 5ns, 10ns, 100ns, 1000ns |
Relevante accreditatie
CNAS
Testduur
3 ~ 7 werkdagen
Dienst Achtergrond
Elektrostatische ontlading is een fenomeen waarbij lading onmiddellijk vrijkomt (zoals ontlading door menselijk contact met een chip). De spanning kan duizenden volt bereiken, voldoende om de interne isolatielagen van de chip af te breken of transistors te beschadigen, wat leidt tot functionele storingen of prestatievermindering. Als een chip defect raakt vanwege ESD-problemen nadat de tape-uit is, zijn de herbewerkingskosten extreem hoog (vooral voor geavanceerde processen). Testen helpt bij het identificeren van kwetsbaarheden tijdens de ontwerpfase, waardoor latere risico's worden verminderd. Naarmate halfgeleiderprocessen zich ontwikkelen tot niveaus op nanoschaal (bijvoorbeeld 7 nm, 5 nm), met kleinere chipgroottes en toegenomen integratie, neemt de tolerantie voor ESD aanzienlijk af. ESD-testen zijn een kerngarantie geworden voor de betrouwbaarheid van chips.
Onze voordelen
De ESD-tests van GRGTEST maken gebruik van de technische kracht van een laboratorium op nationaal -niveau, zijn uitgerust met internationaal geavanceerde apparatuur en uitgebreide testoplossingen, en beschikken over gezaghebbende certificeringen zoals CNAS en CMA. Wij bieden efficiënte en nauwkeurige testdiensten voor elektrostatische bescherming, waardoor bedrijven de productbetrouwbaarheid en het concurrentievermogen op de markt kunnen verbeteren.
Populaire tags: chip-esd-testniveau, Chinese serviceprovider voor chip-esd-niveau
